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閃存芯片高低溫沖擊試驗箱主要檢查材料是否能承受快速的溫度變化。有些轉(zhuǎn)變?nèi)鐝母邷氐降蜏兀缓?，從低溫到高溫。這些突然的變化會導(dǎo)致應(yīng)力和損壞，如裂縫或斷裂，要目標是看看材料如何應(yīng)對這些大的溫度波動。
冷熱沖擊測試定義
冷熱沖擊測試又叫為高低溫沖擊試驗或者溫度沖擊試驗，是將試驗樣品暴露在高溫和低溫的連續(xù)交替環(huán)境中使其在短時間經(jīng)歷溫度的急劇變化，考核產(chǎn)品對周邊環(huán)境溫度急劇變化的能力。在鑒定試驗和例行試驗中必不可少，也可以應(yīng)用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗。
技術(shù)參數(shù)：
高低溫沖擊試驗分兩箱法和三箱法
二箱設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)，低溫區(qū)兩部分，測試產(chǎn)品置于提籃中，沖擊時提籃將測試產(chǎn)品移動進高溫區(qū)或低溫區(qū)進行沖擊，測試產(chǎn)品為動態(tài)式。
三箱設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)，低溫區(qū)，測試區(qū)三部分，測試產(chǎn)品完全靜止。采用獨特之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測試?？瑟毩⒃O(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇二箱或三箱功能并具有高低溫試驗箱的功能。
產(chǎn)品說明：
1、應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、電子產(chǎn)品和其他軍用設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗。
2、立式結(jié)構(gòu)，高低溫箱循環(huán)過程自動控制，停留及轉(zhuǎn)換時間可調(diào)，不銹鋼內(nèi)膽，多形式記錄，設(shè)有多種安全保護措施及裝置。
3、滿足 MIL-STD-810D方法 032、 GB2423.22-89Na、 GJB1505-86等。
如有閃存芯片高低溫沖擊試驗箱的選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
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